Caracterización de materiales

Contenido

Caracterización Estructural

Difracción de Neutrones

Descripción 

Difracción de Rayos X / Monoscristal

Descripción 

Difracción de Rayos X / Láminas Delgadas

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Difracción de Rayos X / Polvo y SAXS

Descripción 

Microscopía - Ciencia de Superficies

AFM

Descripción 

Scanning Tunneling Microscopes

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XPS

Descripción 

Nanoindentacion

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Microscopía Electrónica

Microscopía Electrónica con Corrección de Aberraciones

Descripción 

Microscopía Electrónica de Transmisión

Descripción 

Microscopía Electrónica de Barrido

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Preparación de Lamelas y Muestras SEM/TEM

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Microscopía Óptica

Microscopía Óptica Polarizada

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Microscopía Óptica Confocal

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Medidores de ángulos de Contacto

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Medida de Tamaño de Partícula

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Propiedades Físicas de Materiales

Propiedades Magnéticas, Eléctricas y de Transporte

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Propiedades Térmicas / Thermal Properties

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Laboratorio de Muy Bajas Temperaturas

Refrigeradores de Dilución

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Refrigeradores de 3He

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Refrigeradores Cryofree

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Técnicas de Caracterización Espectroscópica

Resonancia Magnética Nuclear

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Espectroscopías electrónicas y Nucleares

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Espectroscopías de Fotoemisión

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Espectroscopías Raman

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Espectrofotómetros (IR-Vis-UV)

Descripción 

Espectrofluorímetros

Descripción 

Luminómetros

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Cámaras IR

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Cromatografía de Gases

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Análisis Elemental

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Espectrometría Atómica y de Masas

Descripción 

Fluorescencia de Rayos X

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Computación

Computer Clusters

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