A. Microscopio confocal e interferómetro Sensofar PL 2300, dispone de objetivos de 10, 20, 50 y 100 aumentos que se emplean para superficies lisas y rugosas.

B. Microscopio de sonda de barrido Ntegra Aura NT-MDT, permite realizar medidas de AFM (atomic force microscopy), MFM (magnetic force microscopy) con posibilidad de aplicación de campo tanto en el plano paralelo como perpendicular a la muestra, EFM (electrostatic force microscopy), KPM (Kelvin probe microscipy), STM (scanning tunneling microscopy), nanolitografía, SNOM (scanning near field optical microscopy) y PLL.

C. Nanoindentador Agilent G200, consta de los siguientes métodos: indentación simple, CSM (continuous stiffness measurement), scratch, LFM (lateral force measurement) y alta carga.

– Topografías superficiales y obtención de imágenes en 2D y 3D.
– Análisis de perfiles.
– Análisis de rugosidad.
– Visualización de variaciones de composición, adhesión, fricción.
– Investigación académica y centros de investigación
– Industria farmacéutica e industria química en general (polímeros y biopolímeros, pinturas, cerámicas, cosmética, aromas, petroquímica, etc.)
– Industria veterinaria, agroquímica y alimentaria, entre otras.Aplicación de campos y visualización de dominios magnéticos.
– Análisis de conductividad y resistividad eléctrica y visualización de distribuciones de potenciales eléctricos.
– Nanolitografía.
– Estudio de propiedades ópticas a escala nanométrica.
– Obtención de propiedades mecánicas de materiales: módulo de Young y dureza.

– Industrias de recubrimientos, pinturas, esmaltes, cerámicas, etc.